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深圳市谷易电子有限公司带您了解福建DDR测试治具销售,高功率芯片socket测试座产品特色按照芯片实际功能需求设计,允许大电流高频开关脉冲测量;产品用途按照芯片实际功能需求设计,允许大电流高频开关脉冲的绝大多数功能。产品特色可以在一个封装中同时测试多个不同功率的电源。可以实现不同功率的电源。产品特色在一个封装中同时测试多个不同功率的电源。可以实现不同功率的电源。在一个封装中,允许大电流高频开关脉冲测量;产品用途按照芯片实际功能需求设计,允许大电流低频开关脉冲测量;产品用途按照芯片实际功能需求设计。
福建DDR测试治具销售,ddr内存颗粒测试治具产品特点及性能参数产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便,达到更高的使用寿命;有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个ic平衡下压;采用手动翻盖滚轴式结构,可以将芯片的内部压板自动旋转,减轻了用户的操作负担;有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保持每个ic平衡下压;有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保持每个ic平衡下压;有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保持每个ic平衡下压;有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保持每个ic平衡下压。
单测试座同时测试16个芯片,单位DUT测试成本下降,规模效应明显产品用途常规SMD功率芯片的正常测试,HAST/HTOL等老化测试、可靠性测试,自动化设备匹配使用,手工测试亦可。DC/DC电源芯片测试座BGA77pin封装是近期一款较为特殊的电源芯片,DC/DC电源功能,共4通道输出,每个通道持续性电流输出为DC4A,输出峰值在5A。其功能DC转DC时候,将4V到14V的电压转换成为6V~5V电压,释放较高电流以及热量,其功耗高达5W。其芯片尺寸9×15×01mm,间距27mm。
治具厂家,ddr4芯片内存条的测试夹具注ddr芯片有多种尺寸规格,购买时请务必告知您所需要测试的芯片尺寸,为方便广大户测试不同规格的内存ic。ddr内存条测试夹具注sdram公板采用ddr4内存条公板,兼容性好,合金座头、合金限位框、导电胶结构、测试稳定。sdram公板采用ddr4内存条公板,兼容性好,合金座头、合金限位框、导电胶结构、测试稳定。ddr内存条测试夹具注sdram公板采用ddr4内存条公板,兼容性好,合金座头、导电胶结构、测试稳定。
高功率芯片socket测试座-高频开关电源的功耗、温度等题,同时也可以对低压大电流的mosfet进行测试。产品特色采用高速电路设计,可以提供的工作稳定性,并且具有的超频能力。dfn8mosfetic功率密度25w,封装尺寸为4*3mm。该封装尺寸适合于大电流工作环境中使用。的绝缘性能,可以通过电源适配器进行测量,并在测试中使用。dfn8x8mosfet可以提供多达16个功率单元,可支持多种工艺参数。dfn8x8mosfet可提供多种输出模式。dfn8x7mosfet采用了高性能的高精度封装和封装技术。
ddr4内存颗粒测试治具产品特点及性能参数ddr4内存颗粒测试治具产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;产品全新设计,相比以前更薄,预留插槽卡位;采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便;采用自适应弹簧保证每个ic平衡下压。ddr4内存颗粒测试治具产品特点及性能参数ddr4内存颗粒测试治具产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的芯片;采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便;采用自适应弹簧保证每个ic平衡下压。ddr4内存颗粒测试治具产品特点及性能参数ddr4内存颗粒测试治具产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的芯片;采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便;采用自适应弹簧保证每个ic平衡下压。
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